Trust built on measurable testing
Six stages from incoming inspection to reporting, supported by 16 professional test systems and customizable test solutions
End-to-end Testing Process
Hover over each step to view the equipment and technical standards used
来料检测 IQC
Flash 颗粒、主控芯片、PCB 等核心物料 100% 全检，确保批次一致性和来料质量。
Burn-in 老化测试
所有产品 100% 通过 48 小时高温老化测试，读写全载运行，提前筛选早期失效产品。
功能验证
使用 ATTO、CrystalDiskMark、AS SSD Benchmark 等工具进行全平台性能测试。
坏块筛查
全盘扫描，标记并隔离坏块，确保可用容量 100% 达标。
数据完整性校验
全盘写入再读出，MD5/SHA 校验确保数据零错误。
测试报告输出
每批次生成详细测试报告，含 CDM 实测截图、性能曲线、良率统计。
交付：PDF 测试报告 + 原始测试数据
Core Testing Capabilities
Select the tests you need to generate an inquiry list and receive a tailored test plan
Testing Equipment & Capacity
16 HBK professional test systems covering RDT burn-in, BIT testing and PCIe validation
980 高温RDT测试柜
192 BIT 测试柜
128口 PCIE 测试柜
Custom Testing Solutions
不只提供标准测试服务，更为客户提供深度定制化测试解决方案
测试程式开发
根据客户产品规格和测试需求，定制开发专用测试程式，包括特定读写模式、压力场景和边界条件测试。
老化板 (Burn-in Board) 设计
针对不同接口和封装类型（M.2 2280/2242、MSATA、2.5" SATA），设计专用老化测试板，支持批量并行测试。
良率优化咨询
基于大量测试数据分析，为客户提供产品良率提升建议，包括工艺优化、物料选型和测试策略调整。
失效分析服务
对客户退回或异常产品进行深度失效分析，出具详细FA报告，协助定位根因和改进方案。