信任源自可量化的测试
从来料检测到出报告，六大环节全流程覆盖。配备16台专业测试设备，搭载可定制化的测试方案开发能力
测试全流程展示
鼠标悬停每个步骤，查看该环节使用的测试设备及技术标准
1
来料检测
IQC 全检
来料检测 IQC
Flash 颗粒、主控芯片、PCB 等核心物料 100% 全检，确保批次一致性和来料质量。
设备：首件测试仪 | 标准：外观检查、电气特性测试、X-Ray抽检
2
老化测试
Burn-in
Burn-in 老化测试
所有产品 100% 通过 48 小时高温老化测试，读写全载运行，提前筛选早期失效产品。
设备：高温老化测试柜 | 标准：80°C / 48小时 / 读写全载
3
功能验证
Performance
功能验证
使用 ATTO、CrystalDiskMark、AS SSD Benchmark 等工具进行全平台性能测试。
工具：CDM、ATTO、AS SSD、H2testw | 标准：读写速度达标验证
4
坏块筛查
Bad Block
坏块筛查
全盘扫描，标记并隔离坏块，确保可用容量 100% 达标。
标准：LDPC 纠错 + 自动坏块管理 | 零坏块容忍
5
数据校验
Data Verify
数据完整性校验
全盘写入再读出，MD5/SHA 校验确保数据零错误。
标准：全盘数据一致性校验 | 零错误容忍
6
出报告
Report
测试报告输出
每批次生成详细测试报告，含 CDM 实测截图、性能曲线、良率统计。
交付：PDF 测试报告 + 原始测试数据
核心测试能力清单
勾选您需要的测试项目，一键生成询盘清单，我们将为您提供定制化测试方案
SSD 固态硬盘测试
读写性能测试
数据保留测试 (Data Retention)
功耗测试
安全擦除 (Secure Erase)
TRIM 功能验证
异常断电测试
Burn-in 老化测试 (48h)
平台兼容性测试
DRAM 内存测试
Full Memory Test
时序验证
高频稳定性测试
双通道匹配测试
电压容限测试
移动存储测试
坏块管理验证
手机兼容性测试
相机兼容性测试
车机兼容性测试
真实读写速度测试
插拔耐久性测试
测试设备与产能展示
配备哈博客(HBK)专业测试设备16台，覆盖RDT老化、BIT测试、PCIE功能验证全流程
980 高温RDT测试柜
品牌：哈博客 (HBK) | 型号：HBK-RDT-980D
6
台
980
槽位/台
三合一
功能
192 BIT 测试柜
品牌：哈博客 (HBK) | 型号：HBK-SBIT-192B
5
台
192
通道/台
96
总通道
128口 PCIE 测试柜
品牌：哈博客 (HBK) | 型号：HBK-NBIT-128B
5
台
128
端口/台
640
总端口
16台
专业测试设备
5,880+
总测试槽位
48h
Burn-in 时长
100%
全检测试
定制测试方案开发
不只提供标准测试服务，更为客户提供深度定制化测试解决方案
测试程式开发
根据客户产品规格和测试需求，定制开发专用测试程式，包括特定读写模式、压力场景和边界条件测试。
老化板 (Burn-in Board) 设计
针对不同接口和封装类型（M.2 2280/2242、MSATA、2.5" SATA），设计专用老化测试板，支持批量并行测试。
良率优化咨询
基于大量测试数据分析，为客户提供产品良率提升建议，包括工艺优化、物料选型和测试策略调整。
失效分析服务
对客户退回或异常产品进行深度失效分析，出具详细FA报告，协助定位根因和改进方案。